Obrázek může být reprezentace.
Viz Specifikace pro podrobnosti o produktu.
Viz Specifikace pro podrobnosti o produktu.
SN74BCT8374ADWR
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Číslo dílu
SN74BCT8374ADWR
Výrobce/značka
Série
74BCT
Stav sekce
Obsolete
Obal
Tape & Reel (TR)
Provozní teplota
0°C ~ 70°C
Typ montáže
Surface Mount
Balíček/pouzdro
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Dodavatelský balíček zařízení
24-SOIC
Napájecí napětí
4.5 V ~ 5.5 V
Počet bitů
8
Typ logiky
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Žádost o nabídku
Vyplňte prosím všechna požadovaná pole a klikněte na " Předložit ", budeme vás kontaktovat za 12 hodin e-mailem. Pokud máte nějaký problém, zanechte prosím zprávy nebo e-mail [email protected], budeme odpovídat co nejdříve.
Na skladě 42892 PCS
Kontaktní informace
Související produkty
Klíčová slova SN74BCT8374ADWR
SN74BCT8374ADWR Elektronické komponenty
SN74BCT8374ADWR Odbyt
SN74BCT8374ADWR Dodavatel
SN74BCT8374ADWR Distributor
SN74BCT8374ADWR Datová tabulka
SN74BCT8374ADWR Fotky
SN74BCT8374ADWR Cena
SN74BCT8374ADWR Nabídka
SN74BCT8374ADWR Nejnižší cena
SN74BCT8374ADWR Vyhledávání
SN74BCT8374ADWR Nákup
SN74BCT8374ADWR Chip