Obrázek může být reprezentace.
Viz Specifikace pro podrobnosti o produktu.
Viz Specifikace pro podrobnosti o produktu.
SN74BCT8374ANT
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Číslo dílu
SN74BCT8374ANT
Výrobce/značka
Série
74BCT
Stav sekce
Obsolete
Obal
Tube
Provozní teplota
0°C ~ 70°C
Typ montáže
Through Hole
Balíček/pouzdro
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Dodavatelský balíček zařízení
24-PDIP
Napájecí napětí
4.5 V ~ 5.5 V
Počet bitů
8
Typ logiky
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Žádost o nabídku
Vyplňte prosím všechna požadovaná pole a klikněte na " Předložit ", budeme vás kontaktovat za 12 hodin e-mailem. Pokud máte nějaký problém, zanechte prosím zprávy nebo e-mail [email protected], budeme odpovídat co nejdříve.
Na skladě 50561 PCS
Kontaktní informace
Související produkty
Klíčová slova SN74BCT8374ANT
SN74BCT8374ANT Elektronické komponenty
SN74BCT8374ANT Odbyt
SN74BCT8374ANT Dodavatel
SN74BCT8374ANT Distributor
SN74BCT8374ANT Datová tabulka
SN74BCT8374ANT Fotky
SN74BCT8374ANT Cena
SN74BCT8374ANT Nabídka
SN74BCT8374ANT Nejnižší cena
SN74BCT8374ANT Vyhledávání
SN74BCT8374ANT Nákup
SN74BCT8374ANT Chip