Obrázek může být reprezentace.
Viz Specifikace pro podrobnosti o produktu.
Viz Specifikace pro podrobnosti o produktu.
SN74BCT8374ANTG4
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Číslo dílu
SN74BCT8374ANTG4
Výrobce/značka
Série
74BCT
Stav sekce
Obsolete
Obal
Tube
Provozní teplota
0°C ~ 70°C
Typ montáže
Through Hole
Balíček/pouzdro
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Dodavatelský balíček zařízení
24-PDIP
Napájecí napětí
4.5 V ~ 5.5 V
Počet bitů
8
Typ logiky
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Žádost o nabídku
Vyplňte prosím všechna požadovaná pole a klikněte na " Předložit ", budeme vás kontaktovat za 12 hodin e-mailem. Pokud máte nějaký problém, zanechte prosím zprávy nebo e-mail [email protected], budeme odpovídat co nejdříve.
Na skladě 30427 PCS
Kontaktní informace
Související produkty
Klíčová slova SN74BCT8374ANTG4
SN74BCT8374ANTG4 Elektronické komponenty
SN74BCT8374ANTG4 Odbyt
SN74BCT8374ANTG4 Dodavatel
SN74BCT8374ANTG4 Distributor
SN74BCT8374ANTG4 Datová tabulka
SN74BCT8374ANTG4 Fotky
SN74BCT8374ANTG4 Cena
SN74BCT8374ANTG4 Nabídka
SN74BCT8374ANTG4 Nejnižší cena
SN74BCT8374ANTG4 Vyhledávání
SN74BCT8374ANTG4 Nákup
SN74BCT8374ANTG4 Chip