SN74LVTH182512DGGR
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Číslo dílu
SN74LVTH182512DGGR
Výrobce/značka
Série
74LVTH
Stav sekce
Active
Obal
Cut Tape (CT)
Provozní teplota
-40°C ~ 85°C
Typ montáže
Surface Mount
Balíček/pouzdro
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Dodavatelský balíček zařízení
64-TSSOP
Napájecí napětí
2.7 V ~ 3.6 V
Počet bitů
18
Typ logiky
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Žádost o nabídku
Vyplňte prosím všechna požadovaná pole a klikněte na " Předložit ", budeme vás kontaktovat za 12 hodin e-mailem. Pokud máte nějaký problém, zanechte prosím zprávy nebo e-mail [email protected], budeme odpovídat co nejdříve.
Na skladě 17539 PCS
Kontaktní informace
Související produkty
Klíčová slova SN74LVTH182512DGGR
SN74LVTH182512DGGR Elektronické komponenty
SN74LVTH182512DGGR Odbyt
SN74LVTH182512DGGR Dodavatel
SN74LVTH182512DGGR Distributor
SN74LVTH182512DGGR Datová tabulka
SN74LVTH182512DGGR Fotky
SN74LVTH182512DGGR Cena
SN74LVTH182512DGGR Nabídka
SN74LVTH182512DGGR Nejnižší cena
SN74LVTH182512DGGR Vyhledávání
SN74LVTH182512DGGR Nákup
SN74LVTH182512DGGR Chip